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化学 高校生

教えてくださいよろしくお願いします。

回 溶解度積 司イオンを含む水池に確化水素を通すと。 確化物がすscあい coの> >の いられる。 硫化水素は水に傘解すると, XOう80WoWDepys。 が 5 < + HS- …の。 ksroxio2meyo の Ko=1.0x10-5(mo/UD /がし。 生化水素の水への溶解度は, pH にかかわ5ず常に0.10mol/Lとする。 また 革浴性の金属太化物 MSも水にわす かに浴け, 次の浴解平衛が成り立つ。 ksp=[MES] このとき, Ksp の値を浴解度積といい。 名人金属硫化物に固有の定数なる。 ただし, PbS, MnS の角度積はそれぞれ 1.0x 10" "(mol/J 1.0x10-!Cmol/LJとし。 pH を変化させたときの水溶次体積化は無視できるものとする。 (3) Pb2*と Mn2+をそれぞれ 0.010mol/L ずつ含んでいる混合水溶液の PHを2.0 に保ちながら, HzS を十分に通じたと き, 生じる沈暴の化学式を答えよ。 また。 沈殿しないで潤液中に残っている Pb*T。Mn2*の濃度はそれでれ何 mol/Lか。 (2⑦ (①の反応後を坊過して沈暴を分離する。 ろ液の pH を 6.0 に保ちなが5, HzS を分に通じたとき。 生じる決和の化学式 を答えよ。また, 沈殿しないで溶液中に残っている Pb** Mn<*の濃度はそれぞれ何 mol/L か。 (3) Pb2+と Mn21をそれぞれ 0.010mol/L ずつ含んでいる混合水溶液がある。 これから, PbS と MnS のいずれか一方だけを 沈典させるための pH の最大値を求めよ。 (称波大回)

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化学 高校生

RHEED法の原理と得られる7つの情報が、この英文に書かれているみたいなのですが、よく分かりません。 分かる方助けてください!🙇‍♂️

INTRODUCTION Reection high-energy electron diHiraction (RHEED) uses a Rnely collimated electron beam with energy of 10-100 keV. The beam irradiates a sample surface with gazing incidence to obtain forward scattered difraction patterms. RHEED enables us to analyze structures of crystal surfaces at atomic levels and also to in situ monitor growth processes of thin films (mo、1988: Ichimiya and Cohen、2004: Peng et al.. 2011). From the arrangement。intensity and profile of the dilraction spots in RHEED patterns as described below in detail、 one can obtain various kinds of information: (1) the periodicity (unit cells) in atomic arrangements. (2) flat- ness of surfaces. (3) sizes of grains/domains of surface structures and microcrystals grown on the surface. (3) epitaxial relation between the grown flms/islands with respect to the substrate. (5) parameters character- izing structural phase transitions. (6) individual atomic positions in the unit cells. and (7) growth styles of thin films and numbers of atomic layers grown. The most important advantages of the method are that it is quite easy to install the RHEED apparatus in Yarious types of vacuum chambers without interfering with other components of apparatuses and to do real- time monitoring during thin-Rlm growths. Because of these advantages.RHEED is nowwidelyusednotonlyin research Iabs of surfaces and thin fims. but also in device production processes in industry Low-energy electron diiraction (LEED、see article Low-ENNERcy ErecroN DirscmoN)。 in which an electron beam of 10-100 eV in energy is irradiated onto a sample surface with nearly normal incidence to obtain back- scattered difraction patterns. is also widely used to analyze the atomic structures of crystal surfaces. Since one has to make the sample face directly to the LEED

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