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化学 高校生

だめだぜんぜーわかんねwwたすけてくれー ❶と❷がわからんズラたすけてズラ

四加1 元素の確認 次の実験について, 下の各問いに答えよ。 計験管にある曰色の固体物質を入れ, 右図のようにして加熱し、発生し 例 題研 究 レー た気体を石災水に通じると白濁した。また, 試験簿の付近にたまった液 体を白色の硫酸鋼 (I) 無水塩につけると青色に変化した。さらに, 試験 箇内に残った物質の水溶液をバーナーの外炎で熟すると. 災が黄色を示した。 ⑩ 下張部①Dの気体名を答えよ。また. このことから確認された元素名を答えよ。 @ 下線部のの液体名を答えよ。また, このことから確認された元素名を答えよ。 @ 了線部③の反応名を答えよ。また, このことから確認された元素名を答えよ。 帰民) @ 石灰水に二酸化炭素を通じると, 炭酸カルシウム CaCO。が生じて自濁する。このことから。試料中 には二酸化炭素 CO。 の成分元素である炭素 C が確認できる (一方, 酸素 O についてば,空気中の酸素 に由来する可能仁があり, 成分元素とは断定できない)。 @ 硫酸銅(I) 無水塩CuSO。 は水に触れると青色の硫酸銅 (TI) 五水和物 CuSO。・5H。O に変化する。 このことから, 試料中には水 H。O の成分元素である水素 H が確認でき と @⑨ 試料の水溶液を白金線につけ, バーナーの外炎に入れて炎の色が黄色の炎色反応を示したとき, 試料 中のナトリウム Na 元素が確認できる。 知 ⑳⑩ 二酸化炭素 炭素 @ 水, 水素 @ 炎色反応,ナトリウム 問題eee ケイプス だききウッ ーー 。 。 - - - - -- ニラ。 ーーピー PHP

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化学 高校生

RHEED法の原理と得られる7つの情報が、この英文に書かれているみたいなのですが、よく分かりません。 分かる方助けてください!🙇‍♂️

INTRODUCTION Reection high-energy electron diHiraction (RHEED) uses a Rnely collimated electron beam with energy of 10-100 keV. The beam irradiates a sample surface with gazing incidence to obtain forward scattered difraction patterms. RHEED enables us to analyze structures of crystal surfaces at atomic levels and also to in situ monitor growth processes of thin films (mo、1988: Ichimiya and Cohen、2004: Peng et al.. 2011). From the arrangement。intensity and profile of the dilraction spots in RHEED patterns as described below in detail、 one can obtain various kinds of information: (1) the periodicity (unit cells) in atomic arrangements. (2) flat- ness of surfaces. (3) sizes of grains/domains of surface structures and microcrystals grown on the surface. (3) epitaxial relation between the grown flms/islands with respect to the substrate. (5) parameters character- izing structural phase transitions. (6) individual atomic positions in the unit cells. and (7) growth styles of thin films and numbers of atomic layers grown. The most important advantages of the method are that it is quite easy to install the RHEED apparatus in Yarious types of vacuum chambers without interfering with other components of apparatuses and to do real- time monitoring during thin-Rlm growths. Because of these advantages.RHEED is nowwidelyusednotonlyin research Iabs of surfaces and thin fims. but also in device production processes in industry Low-energy electron diiraction (LEED、see article Low-ENNERcy ErecroN DirscmoN)。 in which an electron beam of 10-100 eV in energy is irradiated onto a sample surface with nearly normal incidence to obtain back- scattered difraction patterns. is also widely used to analyze the atomic structures of crystal surfaces. Since one has to make the sample face directly to the LEED

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